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B2510
KGD製造に欠かせない
B2510 ウエハ・レベルバーンイン・システム
768DUT同時測定により高スループットを実現
低インピーダンスLD(レベル・ドライバ)を採用
標準的なテスタ言語を採用
テスタと同等のISVM・VSIM機能を搭載
GUIによる強力なデバッグ環境
Specifications
テスト・ヘッド
1stn
テスト周波数
10MHz
テスト・ヘッド
チャネル数
Pin
6,144pins/sys
Pin Mode
In/Out /LD
LD
768ch
PPS
768PPS/sys
DC
192DC/sys
システム・ソフトウェア
Jaguar Software
