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B8502
ワンチップ・テスタにより小型・高性能・低消費電力を実現
B8502 フラッシュ・メモリ・テスト・システム
テスタ機能を集積したワンチップ・テスタLSIを採用
わずか4kVAで256個の同時測定が可能
標準的なテスタ・プログラム言語を採用
同一環境のエンジニアリング・ステーションにてプログラム作成が容易
充実した開発／デバッグ・ツールを搭載
Specifications
テスト・ヘッド
1stn
テスト周波数
66MHz
精度
OTA
±1.6ns
テスト・ヘッド
チャネル数
DR
(2,048DR+2,688I/O)/sys
PPS
256PPS/sys
DC
128DC/sys
システム・ソフトウェア
Jaguar Software
ECC機能付きバッド・ブロック・マネジメント
有
デバッグ・評価用--->B8502ES
