日本エンジニアリング株式会社　P3102

P3502システムを少量多品種製品、品質保証用に最適化

P3102 テスト・バーンイン・システム

測定可能メモリ：SRAM, SDRAM, DDR2, DDR3, Flash（オプション)
C言語採用による多彩な用途
GUIによる充実のデバッグ環境
デバイス・プログラムはP3502、P3502ESと共通
4品種同時測定、バーンインが可能
各チャンバーは独立動作が可能

Specifications
テスト周波数	20MHz
ゾーン	4zone
スロット	4slot/chamber
I/O	72I/O /slot
PGステップ数	65,536steps
チャンバー	4
温度範囲	Chamber1,2: 70℃～150℃ Chamber3,4 : -55℃～150℃

P3102

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