日本エンジニアリング株式会社　P3502

あらゆるメモリ・デバイスのバーンイン&テストに対応

P3502 テスト・バーンイン・システム

測定可能メモリ：SRAM, SDRAM, DDR2, DDR3, Flash（オプション)
一括大量測定可能 (288DUT/slot時約13,824DUT/system)
C言語採用による多彩な用途
GUIによる充実のデバッグ環境

Specifications
テスト周波数	20MHz
ゾーン	1zone
スロット	48slot
I/O	72I/O /slot
PGステップ	65,536steps
温度範囲	-10℃ ～ 150℃

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