|
|
|
|
|
|
|
デバイス電源の電流容量増加によりテスト・コストの削減を実現
P3506 テスト・バーンイン・システム
| Specifications | |
|---|---|
| テスト周波数 | 20MHz |
| デバイス電源 | PS1(0.4-6V 35A/BIB) PS2(0.4-6V 35A/BIB) Vref(0.4-13V 6A/BIB) |
| ゾーン | 1zone |
| スロット | 48slot |
| I/O |
72I/O /slot |
| PGステップ | 65,536steps |
| 温度範囲 | -10℃ 〜 150℃ |
| Flash測定機能 | Bad Block Memory Bad Block Mask EEC Rank Judgment Universal Buffer Memory Multi Chip Control Data Pattern Memory |
