バーンイン・テストの必要性




半導体デバイスの信頼性を示すものとして「バスタブ・カーブ」と呼ばれる故障率曲線が知られています。

「バスタブ・カーブ」は、デバイスの動作開始後の早い時期に発生する「初期故障」、その後長期間にわたり一定の頻度で発生する「偶発故障」、デバイスの寿命に伴い急激に増加する「摩耗故障」の3つの期間に分けられます。このうち「初期故障」を有した製品が市場に出るということは、製品、メーカに対する信頼の失墜に繋がります。

品質・信頼性の極めて高いデバイスの供給をするためには、デバイスに熱的、電気的などのストレスを印加し、バーンイン・テストを行い初期故障のスクリーニングを行う必要があります。


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